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    FM/060-LP激光平面干涉儀 FM/060-LP

    產品品牌

    MCF

    庫       存：

    80

    產       地：

    中國-北京市

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

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    品牌：MCF

    型號：

    所屬系列：半導體測試設備-表面、內部檢測-表面形貌檢測

    具體設備詳情請咨詢專業(yè)銷售：  400-6988-696   

    型號：FM/060-LP激光平面干涉儀

    原理：斐索干涉儀是一種原理為等厚干涉，用以檢測光學元件的面形、光學鏡頭的波面像差以及光學材料均勻性等的精密儀器。其測量精度一般為1/10～1/100,為檢測用光源的平均波長。

    功能：平面光學元件表面面型測量
         
               測量方式：斐索干涉原理 

    通光口徑：60mm   

    測試波長：635nm（半導體激光器）

    對準方式：簡單兩點對準      

    對準視場：±0.5度              

    平面標準鏡精度：PV：λ/20      


     

                      1.1

    產品特點：

    1.     結構緊湊，小型化；

    2.     防塵效果好；

    3.     具有不損傷被測物品、測試精度高、測量時間短；

    4.     激光干涉儀的光源——激光，具有高強度、高度方向性、空間同調性、窄帶寬和高度單色性等優(yōu)點；

    5.     激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來使用；

    6.     激光干涉儀測量范圍大、分辨率高等。

    應用范圍：科學研究、精密器件加工及光學零件測試等領域的廣泛應用。


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