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    手動(dòng)高低溫探針臺 HMP-800SC 可測8’’晶圓 HMP-1200SC 可測12’’晶圓

    產(chǎn)品品牌

    上海起南

    庫       存:

    100

    產(chǎn)       地:

    全國

    數       量:

    減少 增加

    價(jià)       格:

    面議
    交易保障 擔保交易 網(wǎng)銀支付

    品牌:上海起南

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-電學(xué)性能測試-手動(dòng)探針臺

    手動(dòng)高低溫探針臺
     
    型號:HMP-800SC 可測8’’晶圓
    型號:HMP-1200SC 可測12’’晶圓
     
    此款手動(dòng)探針臺系統針對于新一代半導體裝置設計,非常低的噪音和低的漏電流。在這個(gè)系統中,屏蔽的樣品腔包含探針和樣品臺全部都在EMI屏蔽環(huán)境中。此系統支持超低信號測試,1/f噪音測試,S參量測試,和高速I-V測試在控溫變溫環(huán)境中從-60℃到300℃(或者特殊環(huán)境到400℃)
    此探針臺系統可選支持高電流和高電壓功率測試。
    HMP-610SC 6’’晶圓可選。
     
    應用:
    溫度范圍:室溫到300℃或-60℃到300
    超低信號I-V測量(fA級)
    各種C-V測量(準靜態(tài)C-V, HF-CV,RF-CV[sub pF]
    1/f噪音評估
    RTN(自由電子噪音)評估
    高頻噪音評估(到800MHz
    RF測量(到67GHz/S 參數測量
    超高速I-V測量
    擴展應用:
    支持探卡(支持多點(diǎn)位晶圓可靠性測試WLR
    光電子中光接收/發(fā)散特性評估應用(如:LED,LD,VCSEL,PD
    高功率元器件測量(200A脈沖,+/-3kV三軸,+/-10kV同軸)
    晶圓的可靠性測試(如:EM,TDDB,HCI,NBTI,BT

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