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    包郵 關(guān)注:1654

    SEM電子顯微鏡

    庫       存:

    40

    產(chǎn)       地:

    全國

    數       量:

    減少 增加

    價(jià)       格:

    面議
    交易保障 擔保交易 網(wǎng)銀支付

    品牌:

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-顯微鏡分類(lèi)-電子顯微鏡

    日本Hitachi在電子顯微鏡領(lǐng)域一向以引領(lǐng)技術(shù)潮流著(zhù)稱(chēng):1972年發(fā)布全球第一臺場(chǎng)透射電子微鏡,經(jīng)過(guò)30多年的發(fā)展,日立開(kāi)發(fā)、應用了大量的新技術(shù),例如電子槍多重偏壓、浸沒(méi)式(In-lens)、半浸沒(méi)式(Semi In-lens)物鏡、E x B式探測器,電子減速功能等等。推出了一系列性能優(yōu)異、應用廣泛的新型號電鏡,受到了用戶(hù)的一致好評。Hitachi公司除在日本有自己的研法制造中心外,在北美和歐洲也擁有研究開(kāi)發(fā)中心,在全球六十多個(gè)國家經(jīng)營(yíng)銷(xiāo)售、技術(shù)支持和提供維修服務(wù)。 Hitachi公司將納米尺度呈獻給研究人員和生產(chǎn)廠(chǎng)商。
           在成功推出S-3000系列后,推出新型S-3400N型鎢燈絲SEM,它集成了Hitachi多年開(kāi)發(fā)的新技術(shù),例如新型電子槍、大錐角物鏡、5分割半導體式背散射探頭、物鏡光闌自動(dòng)合軸等等,極大地提高設備的性能和應用擴展能力、使操作和維護更加簡(jiǎn)易。
          S-4800屬于場(chǎng)發(fā)射SEM,它集成S-4700和S-5200型的優(yōu)點(diǎn),采用新型E x B式探測器和電子束減速功能提高了圖像質(zhì)量,特別是低電壓的圖像分辨率;新型的透鏡系統,提供了高分辨模式、高束流模式、大工作距離模式、磁性樣品模式等多種工作模式。
         作為掃描電鏡配套的能譜分析儀器,我們供應日本Horiba公司或美國EDAX公司的產(chǎn)品。
     S-4800場(chǎng)發(fā)射SEM系統:
    1. 分辨率:二次電子(SE)成像:高真空模式:1.0 nm (15KV)、1.4~2.0 nm (1KV)2. 放大倍率:低倍模式20 ~2,000倍;高倍模式100 ~800,800倍
    3. 電子槍?zhuān)豪潢帢O場(chǎng)發(fā)射電子源,束流1pA–2nA;加速電壓:0.5~30 kV;3級電磁透射會(huì )聚系統
    4. 樣品室可容納樣品左右直徑200 mm,同心樣品臺,四軸自動(dòng),可安裝EDS、冷卻臺附件
    5. 移動(dòng)最大范圍:X = 110 mm /Y = 110 mm /Z =1.5~40.0mm /R=360°;傾斜T:范圍不小于-5°~70°(手動(dòng))
    6. 探測器:二次電子檢測器、固體背散射電子檢測器;樣品室 IR-CCD 相機
    7. 圖像掃描:不低于5120×3840像素;圖像顯示1280×960像素

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    如果要移動(dòng)觀(guān)測怎么調節?PC端還是機械手動(dòng)調節?

    dninf  2017-07-14

    加我微信13488683602

    2017-07-14

    應用于半導體行業(yè)的相關(guān)同類(lèi)產(chǎn)品:

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