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    包郵 關注:877

    Bruker 光學輪廓儀

    庫       存:

    1

    產       地:

    美國

    數       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
    交易保障 擔保交易 網銀支付

    品牌:

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-表面形貌測試-表面輪廓儀

     布魯克 (Bruker) 是表面測量和檢測技術的全球領導者,服務于科研和生產領域。新一代白光干涉儀ContourGT系列結合了先進的64位多核操作和分析處理軟件,專利技術白光干涉儀(WLI)硬件和前所未有的操作簡易性,是歷年來來最先進的3D光學表面輪廓儀系統。該系統擁有超大視野內亞埃級至毫米級的垂直計量范圍,樣品安裝靈活,且具有業界最高的測量重復性。ContourGT系列是當今生產研究和質量控制應用中,最廣泛使用和最直觀的3D表面計量平臺。

     

    應用:

        對LED行業、太陽能行業、觸摸屏行業、半導體行業以及數據存儲行業等,提供全方位非接觸式測量方案,樣品從小至微米級別的微機電器件(MEMS),大到整個引擎部件,都可以獲得表面形貌、粗糙度、三維輪廓等精準數據

     

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    提問:
     

    你這個是不是雙光源照明的?多少種分析工具?

    peert  2017-08-09

    X向光柵分辨率,零件直徑范圍多大?

    mund  2017-08-15

    應用于半導體行業的相關同類產品:

    服務熱線

    4001027270

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