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    SEM/EDS測試

    發表于:2017-02-15  作者:863test  關注度:1377

    掃描電子顯微鏡+X射線能譜儀(SEM+EDS)

    掃描電子顯微鏡利用二次電子或背散射電子成像,對樣品表面放大一定的倍數進行形貌觀察,最大放大倍數可達30萬倍,同時利用電子激發出樣品表面的特征X射線來對微區的成分進行定性定量分析。

    測試范圍:

    SEM的二次電子成像分辨率約3nm

    背散射電子成像分辨率約300nm

    EDS成分分析的元素范圍BeU

    分析深度約1μm

    檢測下限約1%

    空間分辨率約1μm

     

    服務項目:

    各種固體材料的形貌分析

    微區化學成分檢測

    樣品成分的線分布和面分布分析

    商家資料

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