1. <code id="ixrr9"></code>

    <pre id="ixrr9"></pre>
    <code id="ixrr9"></code>
    <nav id="ixrr9"></nav>
    <nav id="ixrr9"></nav>

    網站首頁

    |EN

    首頁 » 技術服務館 » 工藝方案設計 » 其他 » 正文

    FIB雙束電鏡檢測

    發表于:2020-02-26  作者:ioptee01  關注度:1114

           聯系方式:18951907529
           聚焦離子束雙束系統用于金屬、半導體、電介質、多層膜結構等固體樣品上制備微納結構;高質量定點TEM樣品制備;化學和晶體結構三維形態分析。

    儀器功能介紹:

    一:截面切割表征,可以在樣品進行定點切割,并且配合EDS能譜分析表征其截面形貌與元素分布,可用于芯片等器件失效分析,或者實現對樣品材料的三維重構分析。

    二:直寫制備微納結構,可以于金屬、半導體等固體材料上制備線寬15nm以上的納米結構器件,可用于制備包括光子晶體結構,表面等離激元器件等。

    三:配備Pt誘導沉積系統,可以在樣品定點區域沉積金屬Pt,可用于芯片修補,也可沉積制備納米圖形。
           
           四:制備TEM樣品,對樣品的進行定點切片。

    1582707493(1)
    1582707579(1)
    圖片1
    圖片1圖片1
    1582707596(1)

    商家資料

    提示:注冊 查看!

    服務熱線

    4001027270

    功能和特性

    價格和優惠

    微信公眾號

    国产99视频精品免视看7,成 人 十 八 黄 色 网 站,无码专区人妻系列日韩,91婷婷韩国欧美一区二区
    1. <code id="ixrr9"></code>

      <pre id="ixrr9"></pre>
      <code id="ixrr9"></code>
      <nav id="ixrr9"></nav>
      <nav id="ixrr9"></nav>