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    包郵 關注:2142

    半自動探針臺(200 mm Semi-Auto Probe Station)

    產品品牌

    ADVANCED

    庫       存:

    50

    產       地:

    臺灣

    數       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
    交易保障 擔保交易 網銀支付

    品牌:ADVANCED

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-電學性能測試-半自動探針臺


          半自動探針臺(200 mm Semi-Auto Probe Station)

    八英電動移動平臺

    X-Y-Z-R移動行程分別為200mm/200mm/30mm/15degree

    X-Y-Z移動精度1um;R:0.01degree

    機臺由PC控制,軟件可以建立wafer map

    系統可以根據工程人員建立的wafer map自動點針

    系統可以搭配高倍顯微鏡和體式顯微鏡兩種光學系統

    光學部分搭配100萬象素的數字CCD

    系統具有自動校驗功能

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